利用JSM-7800F觀察太陽能電池截面
時間：2019-07-16
SM相關產品：JSM-7800F, CP IB-19500CP 領域：觀察太陽能電池的截面
利用JSM-7800F觀察CP加工的太陽能電池截面
近年來在太陽能電池的研究中，光電轉換效率非常高的銅銦鎵硒薄膜太陽能電池 (CIGS） 倍受矚目。觀察CIGS的多層膜結構在研究中占有重要地位，需要結合EDS、EBSD等技術進行多 種測試分析。下面介紹使用CP (截面拋光儀)和配置在JSM-7800F下方的背散射電子檢測器 (BED)進行觀察的實例。
CIGS的背散射電子像及EDS分析
下面是對太陽能電池的切割加工截面和CP加工截面的背散射電子像的觀察。在左圖中，可以看到 解理面上沿晶粒邊界呈現出凹凸不平，而右圖中使用CP加工的截面非常光滑，因此能清晰地觀察到 左圖中不明確的、存在于ZnO和CIGS之間的CdS層因成分不同形成的襯度差異，以及由于因晶體取向 不同形成的通道襯度。配置在下方的背散射電子檢測器(BED)檢測低角度背散射電子，能獲得增強 了通道襯度的圖像，由于在大WD下也能夠高效率地檢測電子，因此在獲取背散射電子像的同時還能 進行EDS面分布。
資料提供： 東京工業大學 山田研究室
SEM觀察
EDS分析
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