絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統
小型輕量及高密度封裝測試利器
▏產品詳情
面對電子產品越來越小型輕量及高密度封裝,因結露吸濕等因素造成的絕緣不良現象暨離子遷移現象日益突出,絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統配之以高溫高濕試驗箱聯動,可高精度連續監測,高效簡便評估因離子遷移現象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。
適用標準:JPCA-ET04、IPC-TM-650_2.6.3F 、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A 、IPC-TM-650_2.6.3.6。
產品特點:
高精準測量
自主開發連續通電掃描繼電器方式,配備國際標準的測量儀表,與環境試驗箱聯動,操作更簡便更安全。
應力電壓范圍廣泛
標配100V應力電壓(應力電壓/測量電壓),更有300V、500V高電壓規格備選。
連續通電掃描方式
ESPEC獨有掃描動作技術,切換掃描時不發生無電壓狀態,測量電壓與偏置電壓均使用同一電壓源控制,可準確控制電壓。
漏電流檢測功能
高速準確捕捉離子遷移現象發生的細微變化,離子遷移實時監測。
專用統計軟件
「E-Graph」可實時編輯預覽監測實時獲得的數據。
專用連接樣件夾具
選配可使連接樣品及線纜更方便,試驗效率更高。

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