JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡
JEM-ARM300F實現(xiàn)了世界最高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器,最高加速電壓可達300kV,是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現(xiàn)了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。
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JEM-ARM300F實現(xiàn)了世界最高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器,最高加速電壓可達300kV,是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現(xiàn)了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。
·實現(xiàn)了世界最高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率
·JEM-ARM300F配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器,最高加速電壓可達300kV,是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現(xiàn)了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。
·STEM-HAADF像的保證分辨率達到了前所未有的58pm
·采用JEOL自主研發(fā)的球差校正器,掃描透射像(STEM像)的保證分辨率可達58pm(300kV,超高分辨率極靴、使用STEM球差校正器時)。
·ETA校正器 JEOL自主研發(fā)的12極球差校正器 ※選配件
·標配了全新設(shè)計的冷場發(fā)射電子槍,低能散、高亮度電子束能提供高分辨率觀察和分析。
·為了支持用戶廣泛的需求,研發(fā)了兩種各具特點的物鏡極靴。
·能安裝超大立體角EDS(能譜儀)、EELS(電子能量損失譜儀)、背散射電子檢測器及四種STEM觀察檢測器。
·標配300kV和80kV下的球差校正數(shù)據(jù),可選的加速電壓范圍從40KV?300kV,使用范圍極廣。
·新的排氣系統(tǒng)達到了極高的真空度,在原子尺度的圖像觀察和分析中,最大限度地減輕了對樣品的污染和損傷。
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