JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡
以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑,易用性強,外觀設(shè)計精煉,能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。
▏產(chǎn)品詳情
·以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑,易用性強,外觀設(shè)計精煉,能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。
·插入和拔出樣品桿,對電鏡初學(xué)者來說一直是高難度的操作。 JEM-F200配備的SpecPorter,即使新手也能輕松掌握,將樣品桿安裝在指定的位置上,只用一個按鈕即能安全地插入或拔出。
·JEM-F200能同時安裝兩個大口徑、分析靈敏度高的硅漂移檢測器(SDD)(選配件)。 憑借更高的靈敏度,EDS分析速度更快,對樣品的損傷更小。
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